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尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)

  • 开课时间: 2020年12月23日 周三 2020年12月23日 周三 查看最新上课时间
  • 开课城市: 上海
  • 培训时长:1天
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  • 课程类别: 质量管理
  • 主讲老师:专家(查看该老师更多课程)
  • 课程编号: 49519
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尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)其它上课时间:

培训对象:

设计工程师,质量和检验人员,相关工程和技术人员。

培训内容:

课程大纲:

课程介绍
两天课程 课程根据了GD&T和正负公差标准ASMEY14.5M-1994和ISO1101的要求,阐述了制造业装配过程对尺寸链和公差分析知识。介绍了正、负几何公差标注检验和分析以及多基准结构,包括:尺寸环分析、数据表格、实效条件、结果条件、内边界、外边界、最小间隙、最大壁厚、最大干涉、最大和最小总体尺寸、紧固/浮动螺纹装配、投射公差带、公差叠加分析、统计公差等。
学员背景要求:
具备基本的机械图纸阅读的基础并在实际工作中有基本的机械图纸应用经验,基本的GD&T知识(ASMEY14.5M-1994),需要计算器。尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)培训教材:每位参加人员将获得一套培训手册,小组练习及案例精选。尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)课程优势
结合大量案例和客户现场问题解释在装配设计过程如何进行尺寸链和公差分析。尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)课程收益
学会计算装配最小和最大壁厚
应用正负公差法建立尺寸环分析和公差叠加分析
使用几何公差、实效条件、结果条件和正负尺寸建立数值图
学会紧固和浮动螺纹装配公差叠加计算
采用多基准计算装配的最小和最大间隙
学会三角几何和比例法计算倾斜公差叠加尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)
课程大纲尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ GD&T和尺寸链和公差分析基础
应用场合
尺寸要素
零件极限条件
GD&T边界计算:MMC,LMC和RFS实体原则尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 使用正负公差法进行公差分析
尺寸环分析
数值分析表
最大和最小间隙尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 尺寸要素垂直和水平环分析尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 正负公差法装配应用
多重尺寸环
正负数值
间隙和干涉尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 浮动螺纹紧固装配分析
结果条件
实效条件
内、外边界
中值边界尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 固定螺纹紧固装配分析
总体最大、最小装配尺寸
装配最大、最小间隙计算
投射公差尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 导轨装配
螺纹要素
综合几何控制
理论和物理极限条件
装配最大壁厚和最小间隙尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 单零件分析
两个单位置控制
基准框和几何公差累积
MMC基准要素
轮廓度
平面度
MMC轮廓
基准平面和基准要素
独立和累积公差
复合公差尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 旋转体装配分析
螺纹孔投射公差
复杂装配简化
确定装配要求
半径间隙计算
干涉计算尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 三角几何和公差叠加分析
建立基准
测量和装配方位考虑
垂直叠加和水平叠加尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 统计公差
高斯频率曲线
标准方差
正负三西格玛
统计公差计算和应用
统计公差正负公差法在装配应用
统计公差逻辑
统计公差装配导入尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)★ 包含案例分析和练习
★ 现场辅导:问题解答尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)
培训方法:
小组练习:通过小组练习来提高对培训内容的了解,掌握尺寸链和公差分析的具体要求和应用。
培训评估:培训评估考虑出勤率及课堂讨论的参与积极性,并包括以下方面:
课堂上积极有意义的提问。
知识的探讨和分享
积极参与小组练习
评分练习通过评分练习来了解培训的实际效果,形式为练习和测验。
最终评估:通过最终评估了解培训的整体效果,并策划改进方案尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)为什么需要培训GD&T以及相关课程(包括检具设计和尺寸链计算)
满足产品设计的功能要求;
缩短产品设计周期;
实现产品设计的可制造性;
减少产品检测过程的歧义;尺寸链计算和公差叠加(美国ASME认证高级专家授课)GD&T系列课程培训将给以下问题提供解答:
1.14个形位公差的理解(尤其是位置度和轮廓度)
2.独立组合位置度和复合位置度的区别
3.实体原则(MMC/LMC)对位置度和轮廓度的影响
4.实体原则应用在基准上对形位公差的影响
5.如何实现以上位置度和轮廓度的测量(传统测量仪器和三坐标)
6.如何设计功能性检具检测以上位置度和轮廓度
7.实体原则(MMC/LMC)对功能性检具的影响,加MMC/LMC和不加有何区别
8.正负公差在计算尺寸链时如何考虑
9.14个形位公差在计算尺寸链时如何考虑
10.以上位置度和轮廓度在计算尺寸链的如何考虑
11.实体原则(MMC/LMC)对尺寸链计算的影响,加MMC/LMC和不加有何区别
12.实体原则(MMC/LMC)用于基准时对尺寸链计算的影响
13.如何考虑正确的基准(包括设计基准,装配基准,加工基准和检验基准)
14.如何合理建立坐标实现位置度和轮廓度的检测
15.如何理解理论尺寸、基准和位置度和轮廓度之间的关系
16.14个形位公差相互关系和制约以及尺寸正负公差和形位公差之间的关系

培训师介绍:

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